招待講演

国際会議

21）Y. Sugawara: "Structural Manipulation and Energy Dissipation on Si(001) Surface with Noncontact Atomic Force Microscopy at 5", ChinaNano2007, June 4-6, 2007, Beijing, China

20) Y.Sugawara: “Atom Manipulation and Identification Using noncontact AFM“, The 2003 JSME-IIP/ASME-ISPS Joint Conference on Micromechatronics for Information and Precision Equipment (IIP/ISPS Joint MIPE 2003), June 16-16, 2003, Yokohama, Japan.

19) Y.Sugawara: “Atomic Manipulation and Identification Using Noncontact AFM”, Japan-US Symposium on Tools and Metrology for NanoTechnology, January 21-24, 2003, Ithaca, USA.

18) Y.Sugawara, N.Oyabu, N.Nakata, T.Nishimoto, E.Sugitachi, I.Yi and S.Morita: “Atom Manipulation and Identification Using NC-AFM“, The 5th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2002), August 11-14, 2002, Montreal, Canada.

17) Y.Sugawara and S.Morita: “Noncontact AFM Study for Hydrogen Termination on Silicon Surfaces”, The 15th International Vacuum Congress (IVC-15), October 28 - November 2, 2001, San Francisco, California, USA.

16) Y.Sugawara, S.Imai, Y.Sano and S.Morita: “Functional Extension of NC-AFM: Atom Identification and Manipulation “, The 4th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2001), September 2-5, 2001, Kyoto, Japan.

15) Y.Sugawara and S.Morita: “Identification of Atom Species on Semiconductor Surfaces Using Noncontact Atomic Force Microscopy (NC-AFM)”, The 1st International Workshop on Quantum Nonplanar Nanostructures & Nanoelectronics ’01 (QNN’01), July 2-4, 2001, Tsukuba, Japan.

14) Y.Sugawara: “Force Imaging of Optical Near Field Using Noncontact Atomic Force Microscopy”, The 43rd Seminar on Science and Technology, Near Field Optics Techniques, March 21-22, 2001, Tokyo, Japan.

13) Y.Sugawara, K.Yokoyama and S.Morita: “Identification of Atom Species on Semiconductor Surface Using Noncontact AFM”, The 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS 2000), November 12-16, 2000, Fukuoka, Japan.

12) Y.Sugawara, K.Yokoyama and S.Morita: “Identification of Atom Species on Semiconductor Surface Using Noncontact AFM”, The 47th International Symposium of the American Vacuum Society (AVS-47/NANO-6), October 2-6, 2000, Boston, Massachusetts, USA.

11) Y.Sugawara: “Atom Selective AFM Imaging on Si(111)?3??3-Ag Surface”, The International Union of Materials Research Societies -6th International Conference in Asia (IUMRS-ICA 2000), Symposium E: Scanning Probe Microscopy for Materials Characterization, July 24-26, 2000, City University of Hong Kong.

10) Y.Sugawara, K.Yokoyama and S.Morita: “Application of NC-AFM with true atomic resolution“, The 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), July 16-19, 2000, Congress Centrum Hamburg, Germany.

9) Y.Sugawara: “Force imaging of optical near field using noncontact atomic force microscopy”, The International Symposium on Optical Science, Engineering, and Instrumentation (SPIE), Near-Field Optics: Physics, Devices, and Information Processing, July 18-23, 1999, Colorado Convention Center & Marriott City Center, Denver, Colorado USA.

8) Y.Sugawara: “Noncontact AFM Images Measured on Si(111)?3??3-Ag and Ag(111) Surfaces”, The 42nd Seminar on Science and Technology, Application of Scanning Probe Techniques, February 9-10, 1999, Tsukuba, Japan.

7) Y.Sugawara: “Noncontact Atomic Force Microscopy and Spectroscopy on Si(111)-Ag Surface”, The 1st Harima International Conference -Frontiers of Surface Science-, December 3-6, 1998. Harima (SPring-8), Japan.

6) T.Uchihashi, T.Tsukamoto, Y.Sugawara, M.Suzuki, Y.Yanase, T.Shigematsu, and S.Morita: “Imaging of chemical reactivity on an atomic scale by noncontact UHV-AFM”, The 5th International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy,, December 11-13,1997, Kanazawa, Japan.

5) S.Morita, Y.Sugawara, T.Uchihashi, H.Ueyama, M.Abe and M.Suzuki: “Atomically-Resolved Imaging of n+-GaAs(110) Cleaved Surface with Noncontact Atomic Force/Electrostatic Force Microscope”, International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’97 (ALC’97), November 23-28,1997, Hawaii, USA.

4) M.Abe, Y.Sugawara and S.Morita: "Detection of Evanescent Field by Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope", The 4th International Colloquim on Scanning Tunneling Microscopy, December 12-14, 1996, Kanazawa, Japan.

3) Y.Sugawara, H.Ueyama, T.Uchihashi, M.Ohta, Y.Yanase, T.Shigematsu, M.Suzuki and S.Morita: “True Atomic Resolution Imaging on Semiconductor Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy”, Materials Research Society 1996 Fall Meeting (MRS 1996) Symposium E: Defects in Electric Materials, December 2-6, 1996, Denver, USA.

2) Y.Sugawara, M.Ohta, H.Ueyama, T.Uchihashi and S.Morita: “True Atomic Resolution Imaging with Noncontact Atomic Force Microscopy”, The 8th International Conference on Solid Films and Surfaces (ICSFS-8), July 1-5, 1996, Osaka, Japan.

1) Y.Sugawara, M.Ohta, H.Ueyama, S.Morita, S.Ohkouchi, M.Suzuki and S.Mishima: “True Atomic resolution Imaging on a Compound Semiconductor Surface with Noncontact Atomic Force Microscopy”, The 3rd International Colloquim on Scanning Tunneling Microscopy, December 7-9, 1995, Kanazawa, Japan.

日本物理学会関係

3) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡の半導体材料科学への応用”、日本物理学会２０００年春の分科会（関西大学）・（シンポジウム主題：非接触原子間力顕微鏡の新展開）、2000年3月24日（シンポジウム講演）。

2) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡の新展開　−化学的活性度と電荷の原子レベル観察−”、日本物理学会1998年亜紀の分科会（沖縄国際大学）、1998年９月28日（特別講演）。

1) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡の最近の展開”、日本物理学会1995年秋の分科会（山口大学）、1995年９月27-30日（シンポジウム講演）。

応用物理学会関係

4) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡による原子種認識と原子操作”、平成15年度春季応用物理学関係連合講演会（神奈川大学）、（シンポジウム主題：原子間力顕微鏡によるナノ力学の新展開）、2003年3月29日（シンポジウム講演）

3) 菅原康弘、“原子間力近接場光学顕微鏡によるサブ原子分解能の達成”、平成14年度秋期応用物理学関係連合講演会（新潟大学）、（シンポジウム主題：光イメージングの極限に挑む〜空間、時間、波長、偏光情報への展開〜）、2002年9月24日（シンポジウム講演）

2) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡を用いた原子の力学的分光”、平成12年度秋期応用物理学関係連合講演会（北海道工業大学）、（シンポジウム主題：力学に基づいた原子分子技術　−原子間力顕微鏡−）、2000年9月3〜7日（シンポジウム講演）

1) 菅原康弘、“半導体表面の非接触ＡＦＭ観察と静電気力測定”、平成10年度春期応用物理講演会（東京工科大学）、1998年3月28〜31日（シンポジウム講演）。

日本化学会関係

2) 菅原康弘、“半導体表面での原子種認識”、日本化学会第81春期会特別企画「非接触原子間力顕微鏡（NC-AFM）で何がどこまでみえるか」（早稲田大学）、2002年3月27日（依頼講演）。
1) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡の新展開　−化学的活性度と電荷の原子レベル観察−”、日本化学会第76春期年会（神奈川大学）、1999年3月28〜31日（招待講演）。

日本電子顕微鏡学会関係

8) 菅原康弘、“無機材料の非接触AFM・静電気力顕微鏡”、日本顕微鏡学会関西支部１４年度特別企画（SPMセミナー）、キャンパスプラザ京都、2002年12月3日（依頼講演）。

7) 菅原康弘、“非接触AFMの現状と将来”、日本顕微鏡学会第47回シンポジウム（顕微鏡法の限界とそのブレークスルーを目指して）、「プローブ顕微鏡法の限界への挑戦」、北とぴあ、仙台、2002年11月27日〜28日（依頼講演）。

6) 菅原康弘、“非接触AFMによる原子種の認識”、日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会（ナノサイエンスを切り拓く新しい顕微鏡法の役割）、「AFMの新しい展開」、大阪国際交流センター、2002年5月14日〜16日（招待講演）。

5) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析”、電子顕微鏡学会関西支部技術研究会、「最先端の光・電子デバイスと電子顕微鏡法」、大阪大学、2000年１２月８日。

4) 菅原康弘、“非接触AFMによる分子種の認識”、日本電子顕微鏡学会第45回シンポジウム（視る限界を超えて）、非生物系セッションIA、岡崎国立共同研究機構コンファレンスセンター、2000年11月21日〜22日。

3) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価”、日本電子顕微鏡学会第56回学術講演会（ミレニアム；新時代での顕微鏡の役割）、「ニューマイクロスコピー：新しい顕微法による表面の分析とイメージング」、北とぴあ、2000年5月17日〜19日（招待講演）。

2) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡の新展開”、日本電子顕微鏡学会第44回シンポジウム（新しい顕微鏡技術が切り開く生命と物質の世界）、TEM,STMによるナノ構造の形成と安定性、順天堂大学本郷キャンパス、1999年11月17日〜19日（依頼講演）。

1) 菅原康弘、”非接触ＡＦＭによる半導体表面の観察　−化学的活性度と電荷の原子レベル観察−”、日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム（千葉大学）1998年10月28〜30日（招待講演）。

2) 菅原康弘、“非接触ＡＦＭによる半導体表面の観察　―化学的活性度と電荷の原子レベル観察−”、日本表面科学会主催　第１９回表面科学セミナー（１９９８年）「走査型プローブ顕微鏡の最近の進歩」（総評会館）、1998年10月29〜30日（依頼講演）。
1) 菅原康弘、日本表面科学会主催(1992年第２回)　−第１４回表面科学基礎講座−　表面・界面分析の基礎と応用、“STM/AFM”、1992年１１月１９日。

1) 菅原康弘、上山仁司、内橋貴之、大田昌弘、“原子間力顕微鏡による半導体表面の評価“、電気学会基礎・材料・共通部門（Ａ部門）平成８年度総合研究会シンポジウム「走査プローブ技術」、1996年11月28日、仙台（依頼講演）。

15)菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡とナノテクノロジー”、電子情報通信学会東北支部学術講演会（東北大学）、2002年11月26日（依頼講演）

14) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡による半導体表面での原子種認識極”、未踏科学技術協会「機能調和酸化物の応用展開を考慮した電子デバイス材料の開発に関する調査」（東京）、2002年３月１２日（依頼講演）。

13) 菅原康弘、“極低温NC-AFM”、分子科学研究所研究会「走査プロープ顕微鏡を用いた分子科学研究の新展開」（岡崎コンファレンスセンター）、2002年２月１３日〜１４日（依頼講演）。

12) 菅原康弘、“ナノの光で原子を読む”、第１６回「大学と科学」公開シンポジウム　―光とナノテクノロジー−（日経ホール）、2001年11月21日〜月22日（依頼講演）。

11) 菅原 康弘、“非接触原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価　−原子分子のナノ力学−”、第46回物性若手夏の学校：サブゼミ表面実験（後援：日本物理学会、応用物理学会、日本化学会）（群馬県伊香保温泉）、2001年8月7日〜8月9日（依頼講演）。

10) 菅原康弘、“AFMにおける表面観察技術”、（財）光産業技術振興協会第３回ナノ・フォトニクス懇談会（飯田橋レインボービル）、2000年12月14日（依頼講演）。

9) 菅原康弘、“原子間力顕微鏡”、日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会出版記念公開シンポジウム「走査型プローブ顕微鏡のロードマップ２０００」（主婦会館）、2000年3月3日（依頼講演）。

8) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観 察”、東北大学金属材料研究所研究会「評価法が開く半導体の欠陥の世界」、2000年1月13・14日（依頼講演）。

7) 菅原康弘、“原子･分子のナノ力学”、第37回　茅コンファレンス（主催：日本学術振興会茅基金運営委員会）・超ミクロ観測手法の急激な進歩を追う?走査プローブ技術と新しい顕微鏡技術（宮城蔵王ロイヤルホテル）、1999年8月21〜24日（依頼講演）。

6) 菅原康弘、“非接触ＡＦＭによる軌道混成による力の原子レベル測定”、理研シンポジウム第５回原子スケール・サイエンジニアリング研究会（理化学研究所）、 1999年1月13日（招待講演）。

5) 菅原康弘、“FM検出静電気力顕微鏡による半導体表面の電荷の原子レベル観察”、ナノプローブテクノロジー第167委員会第6回研究会（弘済会館）、1998年11月27日（依頼講演）。

4) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡の新展開　−化学的活性度と電荷の原子レベル観察−”、第１０回半導体量子効果研究会（新世代研究所）、1998年10月20日（招待講演）。

3) 菅原康弘、“非接触原子間力顕微鏡の現状と展望”、分子科学研究所分子物質開発研究センター研究会・分子スケールエレクトロニクスにおける新規分子物質開発、岡崎国立共同研究機構、1998年9月28〜30日（依頼講演）。

2) 森田清三、菅原康弘、内橋貴之、上山仁司、塚本貴広、“極限空間分解能を持つ近接場原子観察法”、近接場光学研究グループ第6回研究討論会、大阪大学、1997年7月3〜4日（招待講演）。

1) 森田清三、菅原康弘、大田昌弘、“UHV-AFMによる化合物半導体の原子像観察”，理研シンポジウム第３回極微小構造の物理と制御、1994年7月19日、理化学研究所（依頼講演）。