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Books (Yasuhiro
Sugawara)
34)ナノイメージング、走査プローブ顕微鏡を用いたナノイメージング
観察手法（プローブ設計・製作）
1.走査型トンネル顕微鏡
2.原子間力顕微鏡
ブッカーズ,
2008.
33)
菅原康弘
ナノテクノロジー入門シリーズ
ナノテクノための物理入門
極限微小系のナノ物性測定：AFM
表面科学会偏（共立出版）２００７pp.100-109
32)
表面物性工学ハンドブック（丸善）
6.3AFM
6.3.2
装置と測定法
6.3.3-1 観察例１
6.4.2 FFM(friction force
microscopy)
19.4 AFMマニピュレーション
31) Y. Sugawara
" Roadmap
of Scanning Probe Microscopy"
Nanoscience and
Technology Series of Springer
(Series Editors:
K.von.Klitzing, R.Wiesendanger), 2006.
3 Atomic
Force Microscopy (AFM), pp.15-21, 2006.
30) Y. Sugawara,
“Noncontact Atomic Force
Microscopy”,
Applied Scanning Probe Methods VI
Characterization,
Eds.: B. Bhushan, H. Fuchs,
S. Kawata, Springer
247-255, 2006.
29)菅原康弘
「実戦ナノテクノロジー・走査プローブ顕微鏡と局所分光」、分担執筆
裳華房(2005)
2.1走査プローブ顕微鏡の基礎、
pp.13-35,
2005.
28)
菅原康弘
「走査型プローブ顕微鏡 未来予測」分担執筆
2.2原子間力顕微鏡(AFM)、pp.15-23,
2005.丸善
27)
菅原康弘
光ナノテクノロジー－近接場光学・微細加工の原理から最先端研究まで－、「光と半導体」、アドスリー、pp.20-22,
2005.
26) “Scanning Probe
Microscopy: Characterization, Nanofabrication and
Device Application of Functional
Materials”
edited by P.M.Vilarinho
NATO
SCIENCE SERIES: Ⅱ:Mathematics, Physics and
Chemistry
S.Morita, T.Uchihashi K.Okamoto,
M.Abe and Y.Sugawara:
“MICROSCALE CONTACT
CHARGING ON A SILICON OXIDE”
pp.289-308,
2005.
25) “Scanning Probe
Microscopy: Characterization, Nanofabrication and
Device Application of Functional
Materials”
edited by P.M.Vilarinho
NATO
SCIENCE SERIES: Ⅱ:Mathematics, Physics and
Chemistry
S.Morita, N.Oyabu, T.Nishimoto,
R.Nishi, O.Custance, I.Yi and Y.Sugawara
“FUNCTIONS OF NC-AFM ON ATOMIC
SCALE“
pp.173-195, 2005.
24)
日本表面科学会編「新改訂・表面科学基礎と応用」
2編4章表面分析法、5節ナノプローブ法、4原子間力顕微鏡(AFM),
pp.822-828, 2004.
23)
菅原康弘
第18回「大学と科学」公開シンポジウム講演収録集 微弱な力で拓くナノの世界 原子・分子のナノ力学最前線、「原子を区別して動かすナノの力 －単一原子の分析計測－」,
(株)クバプロ、pp.50-59, 2004.
22) “Springer Handbook of
Nanotechnology”,
Edited by
B.Bhushan
Springer, 2004.
Y. Sugawara and S.
Morita:
“Noncontact Atomic Force Microscopy and
Its Related Topics”
A Section “Applications to
Semiconductors”, pp.391-397.
21)
「ナノテクノロジーハンドブック」分担執筆
オーム社
執筆個所：第１章６節「新プローブ」
20)
「イオン工学ハンドブック」分担執筆
（株）イオン工学研究所
執筆箇所：第８章４節２款(3) 表面分析・SPM・SNOM,
pp.676-679.
19) “Nanotechnology and
Nano-interface controlled electronic
devices”,
Edited by M.Iwamoto, K.Kaneko and
S.Mashiko
Elsevier Science, 2002
S.Morita
and Y.Sugawara:
Chapter 21, Characterization of
Semiconductor Surfaces with Noncontact Atomic
Force Microscopy NC-AFM on Semiconductor
Surfaces, pp.431-455.
18)「ナノ光工学ハンドブック」分担執筆
朝倉書店
執筆個所：第２章８節 近接場光の力学的作用
第３章１節４款 原子間力顕微鏡におけるプローブと
位置制御
第３章２節１款 防振
第３章２節２款 真空（表面への影響）
第３章４節２款 原子間力による近接場光の計測（印刷中）
17) “Nano-Optics”,
Edited
by S.Kawata, M.Ohtsu and M.Irie
Springer Series
in Optical Sciences 84, 2002
Y.Sugawara:
5.2, Light Detection from
force, pp.120-125.
16)
菅原康弘
第16回「大学と科学」公開シンポジウム講演収録集 光とナノテクノロ
ジー、「ナノの光で原子を読む」、㈱クバプロ、pp.35-44.
15)
表面分析技術選書「ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡」
分担執筆
丸善
執筆個所：第３章２節 原子間力顕微鏡、pp.40-50.
第５章２節 非接触顕微鏡法による表面観察、pp.213-228.
14) “Noncontact Atomic Force
Microscopy”
Edited by S.Morita, R.Wiesendanger
and E.Meyer
Nanoscience and Technology Series
of Springer
Y.Sugawara:
Chapter 11, NC-AFM
Imaging of Adsorbed Molecules, pp.183-192.
13) “Noncontact Atomic Force
Microscopy”
Edited by S.Morita, R.Wiesendanger
and E.Meyer
Nanoscience and Technology Series
of Springer
S.Morita and Y.Sugawara:
Chapter
3, Semiconductor Surfaces, pp.47-77.
12) “Optical and Electronic
Process of Nano-matters”
Edited by M.
Ohtsu
Kluwer Academic Publishers; Dordrecht,
2001
Advanced Optoelectronics
S. Morita, and
Y. Sugawara:
Title: Noncontact Atomic Force
Microscopy.
pp.235-276.
11) “Fundamentals of
Tribology and Bridging the Gap between Micro-
and Micro/Nanoscales”
Edited by B.
Bhushan
Kluwer Academic Publishers, Dordrecht,
2001,
NATO Science Series II: Mathematics,
Physics and Chemistry ?
Vol.10.
S. Morita,
Y. Sugawara, K. Yokoyama and S.
T.Uchihashi:
Title: Atomic Scale Origins of
Force Interaction
pp.103-120.
10) “Fundamentals of Tribology
and Bridging the Gap between Micro-
and
Micro/Nanoscales”
Edited by B.
Bhushan
Kluwer Academic Publishers, Dordrecht,
2001,
NATO Science Series II: Mathematics,
Physics and Chemistry-Vol. 10.
S. Morita, Y.
Sugawara, K. Yokoyama and S. Fujisawa:
Title:
Frictional-force Imaging and Friction Mechanisms
with a Lattice
pp. 83-101.
9)「近接場ナノフォトニクス入門」分担執筆、
（株）オプトロニクス社、編者：大津元一・河田聡、２０００年４月、
執筆箇所：第Ⅲ部 要素技術偏、
“他のプローブ・走査プローブ顕微鏡技術との対応・関連”
pp.
102-106.
8)
「走査型プローブ顕微鏡 －基礎と未来予測－」分担執筆
丸善（株）、編著者：森田清三、2000年２月、
執筆箇所：第２章第２節、“原子間力顕微鏡“、pp.21-32,
菅原康弘、森田清三共著
7)「電気・電子材料のトライボロジー」分担執筆、
（株）リアライズ社、1999年3月、
執筆箇所：第１章第10節“Atomic
Force Microscopy（原子間力顕微鏡法）”
pp. 85-95.
森田清三、菅原康弘 共著
6)「近接場ナノフォトニクスハンドブック」分担執筆、
（株）オプトロニクス社、編者：大津元一・河田聡、１９９７年９月、
執筆箇所：第Ⅱ部 応用偏、“力学的作用の応用（２）表面”
pp.
201-207.
5)「近接場ナノフォトニクスハンドブック」分担執筆、
（株）オプトロニクス社、編者：大津元一・河田聡、１９９７年９月、
執筆箇所：第Ⅱ部 要素技術偏、
“他のプローブ・走査プローブ顕微鏡技術との対応・関連”
pp.
70-74.
4) “Forces in Scanning Probe
Methods”
Edited by H. -J. Guntherodt, D.
Anselmetti and E.Meyer
Kluwer Academic
Publishers, Dordrecht, 1995,
NATO Advanced
Science Institutes Series E: Applied Science
-Vol.286,
S. Fujisawa, E. Kishi, Y. Sugawara
and S. Morita:
Title: Two-Dimensional
Atomic-Scale Friction Observed with an AFM
pp.
313-318.
3) “Forces in Scanning Probe
Methods”,
Edited by H. -J. Guntherodt, D.
Anselmetti and E.Meyer
Kluwer Academic
Publishers, Dordrecht, 1995,
NATO Advanced
Science Institutes Series E: Applied Science
-Vol.286,
Y. Sugawara, M. Ohta, K. Hontani, S.
Morita, F. Osaka, S. Ohkouchi, M. Suzuki, H.
Nagaoka,
S. Mishima and T. Okada:
Title:
Atomic-Resolution Images of GaAs(110) Surface with
an Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope
(UHV-AFM)
pp. 507-512.
2) “Forces in Scanning Probe
Methods”
Edited by H. -J. Guntherodt, D.
Anselmetti and E.Meyer
Kluwer Academic
Publishers, Dordrecht, 1995,
NATO Advanced
Science Institutes Series E: Applied Science
-Vol.286,
Y. Sugawara, S. Morita, Y. Fukano,
T. Uchihashi, T. Okusako, A. Chayahara,
Y.
Yamanishi and T. Oasa:
Title: Time Dependence
and its Spatial Distribution of Densely
Contact-Electrified Electrons on a Thin Silicon
Oxide
pp. 501-506.
1)「走査型トンネル顕微鏡／原子間力顕微鏡利用技術集成」分担執筆、
（株）ティー・アイ・シィー、編者：ナノ表面研究会、１９９４年７月、
執筆箇所：新技術及び今後の展開、第１章『走査型プローブ顕微鏡の開発』
pp.349-354.
森田清三、菅原康弘、深野善信共著
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