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Commentaries
(Yasuhiro Sugawara)
43)
菅原康弘
“AFM”
電子情報通信学会「知識ベース」
S2群 ナノ・量子・バイオ、4編ナノ加工・計測技術、
2章ナノ計測技術―ナノプローブ、1節SPM概説、1.2AFM
42) 菅原 康弘、内藤 賀公、影島
賢巳、李艶君
「極低温環境における原子分解能非接触原子間力顕微鏡計測技術」
真空、2008.
41)
小林成貴、李艶君、内藤賀公、影島賢巳、菅原康弘
「Q値制御法による位相変調様式原子間力顕微鏡の感度向上」
表面科学,
Vol. 28, No. 9, pp. 532-535, 2007.
40) 内藤賀公, 野村光, 影島賢巳, 李艶君,
菅原康弘
「Si(001)
ステップからの表面応力によるダイマー構造変化の
LT-NC-AFM測定」
表面科学,
Vol. 28, No. 8, pp. 421-427, 2007.
39)
菅原康弘
「原子間力顕微鏡のABC」
顕微鏡、第39巻、第3号,
pp.185-189, 2004.
38)
菅原康弘、清野宜秀
「原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成」
応用物理、第72巻、第8号,
pp.1020-1026, 2003.
37）菅原康弘
「原子間力顕微鏡を用いた新規なナノ計測技術」
生産と技術,
第55 巻, 第2号, pp.47- 49, 2003.
36)
森田清三、岡本憲二、内橋貴之、阿部真之、菅原康弘
「原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察」、
静電気学会誌,
第27巻, 第2号, pp.64-68, 2003.
35）菅原康弘
「STMおよびAFM、原理と応用」
電子顕微鏡、第38巻、第1号、pp.13-18,
2003.
34）菅原康弘
「原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成」
精密工学会誌、第69巻、第2号、pp.154-157,
2003.
33）森田清三、菅原康弘
「２１世紀のナノテクノロジー」
関西電気保安協会、電気と保安、
第2巻、第12号、pp.3-7, 2003.
32)
森田清三、岡本憲二、菅原康弘
「非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察」
表面金属学会、まてりあ、
第41巻、第12号、pp.840-841, 2002.
31)
森田清三、菅原康弘
「走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価」
電子情報通信学会誌、第85巻、第11号、pp.858-865,
2002.
30)
森田清三、菅原康弘
「走査型プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング」
表面金属学会、まてりあ、小特集号,
第41巻、第9号、pp.604-609, 2002.
29)
森田清三、菅原康弘
「非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるのか？」
表面科学会、表面科学、研究紹介,
第23巻、第3号、pp.132-140, 2002.
28) 菅原康弘、森田清三
「ノーベル賞と分光学
Ⅵ.走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡」
日本分光学会、分光研究、講座、第50巻、第6号、pp.284-293,
2001.
27)
森田清三、菅原康弘
「走査型プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー」
応用物理学会、応用物理、総合報告, 第70巻、第10号、pp.1155-1164,
2001.
26)
森田清三、菅原康弘
「非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学」
学術月報、特集：表面・界面科学研究、
第53巻、第12号、pp.69-74,
2000.
25)
森田清三、菅原康弘
「ナノ力学に基づいた原子分子技術」
生産と技術
第52巻、第2号、pp.9-14,
2000.
24)
森田清三、菅原康弘
「原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究」
静電気学会、静電気学会誌「斬新の研究開発者と静電気」,
第24巻、第1号、pp.8-14,
2000.
23)
菅原康弘、森田清三
「非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析」
共立出版、蛋白質・核酸・酵素、
シリーズ蛋白質・核酸・酵素の１分子測定と操作法、
第44巻、第14号、pp.2119-2123,
1999.
22)
森田清三、菅原康弘
「原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測」
電気学会、電子・情報・システム部門(C)誌、
「ナノメータ領域評価技術」特集号、
第119巻、第10号、pp.1109-1112,
1999
21)
森田清三、菅原康弘
「ＡＦＭの現状と展開」
表面科学会、表面科学、解説,
第20巻、第5号、pp.1402-1403, 1999.
20)
森田清三、菅原康弘
「(2)極限空間分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡法」
応用物理学会、応用物理、技術ノート（ナノメートル領域の評価技術の
最前線）、第67巻、第12号、pp.1402-1403,
1998.
19)
菅原康弘、森田清三
「非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観察」、
真空学会、真空、解説,
第41巻、第11号、pp.906-911, 1998.
18)
藤沢悟、森田清三、菅原康弘
「摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー」
表面科学会、表面科学、解説,
第19巻、第6号、pp.374-378, 1998.
17)
菅原康弘、森田清三
「超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開」
日本電子顕微鏡学会、電子顕微鏡,
第33巻、第1号、pp.22-26, 1998.
16)
菅原康弘、森田清三
「非接触モード原子間力顕微鏡の現状と展望」
触媒学会、触媒、第39巻、第8号、pp.612-618,
1997.
15)
菅原康弘、阿部真之、森田清三
「原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出」
日本光学会（応用物理学会）、光学、
走査型近接場光学顕微鏡の原理と応用 最近の技術から
第26巻、第10号、pp.537-538,
1997.
14)
森田清三、菅原康弘、大田昌弘、
「大気および超高真空ＡＦＭで高分解能像を得るためには？
－試作と像解釈のノウハウ(3)－」、
表面科学会、表面科学、実験ノウハウ,
第17巻、第11号、pp.698-700, 1996.
13)
森田清三、菅原康弘、大田昌弘、
「大気および超高真空ＡＦＭで高分解能像を得るためには？
－試作と像解釈のノウハウ(2)－」、
表面科学会、表面科学、実験ノウハウ,
第17巻、第10号、pp.617-618, 1996.
12)
森田清三、菅原康弘、大田昌弘、
「大気および超高真空ＡＦＭで高分解能像を得るためには？
－試作と像解釈のノウハウ(1)－」、
表面科学会、表面科学、実験ノウハウ,
第17巻、第9号、pp.559-561, 1996.
11)
森田清三、菅原康弘、藤沢悟、大田昌弘、上山仁司、
「摩擦力顕微鏡 －ミクロな摩擦力の解釈－」、
表面科学会、表面科学、解説,
第17巻、第1号、pp.22-26, 1996.
10)
菅原康弘、大田昌弘、上山仁司、森田清三、
「非接触モード超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体表面の
原子分解能観察」、
真空学会、真空、解説, 第38巻、第11号、pp.41-46,
1995.
9)
大田昌弘、上山仁司、菅原康弘、森田清三
「超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体へき開面の接触および
非接触原子分解能観察」
応用物理学会、応用物理、研究紹介,
第64巻、第6号、pp.583-587, 1995.
8) 森田清三､
藤沢 悟、岸 栄吾、菅原康弘
「原子レベルでの摩擦法則の破れと揺らぎ」
（株）広信社「表面」,
Vol.33, No.4, pp.1-14, 1995.
7)
藤沢 悟、岸 栄吾、菅原康弘、森田清三
「２次元摩擦力顕微鏡による量子トライボロジー」
日本物理学会誌,
Vol.50, No.1, pp.36-39, 1995.
6)
森田清三、藤沢 悟、岸 栄吾、菅原康弘
「原子間力顕微鏡による表面の研究」
日本トライボロジー学会誌『トライボロジスト』解説
Vol.39,
No.11, pp.933-938, 1994.
5)
森田清三、菅原康弘
「原子間力顕微鏡は何を見てる？」
パリティ、Vol.9,
No.10, pp.20-27, 1994.
4)
森田清三、菅原康弘、深野善信、内橋貴之
「半導体表面のＡＦＭ／ＳＴＭ観察」
ウルトラクリーンテクノロジー［半導体基盤技術研究会］
『プロセス評価分析技術の基礎研究開発』特集号
Vol.6,
No.4, pp.203-206,1994.
3)
森田清三、菅原康弘、藤沢 悟
「ＦＦＭ」
「機械の研究」（養賢堂）１９９４年新年特集号
特集：マイクロマシンとマイクロトライボロジー
第46巻、第1号、pp.154-157, 1994.
2)
森田清三、菅原康弘、深野善信
「ＡＦＭ／ＳＴＭ」
「機械の研究」（養賢堂）、
特集：マイクロマシンとマイクロトライボロジー
第46巻、第1号、1994年新年特集号、pp.150-153,
1994.
1)
森田清三、菅原康弘、深野善信
「ＡＦＭ／ＳＴＭによる半導体の複合観察」
日本結晶学会誌、『走査型トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）特集号』、
第35巻、第2号、pp.174-176,
1993年4月 |
